FS-70 系列

378 系列 — 半導體檢測用顯微鏡單元

? 帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金

屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。

? 多種顯微鏡鏡體通常用作適用于專業(yè)器械的

OEM (原廠委制) 產品，如那些利用YAG (近紅

外、可見、近紫外或紫外) 激光* 對半導體晶

片進行檢測和修補的設備。

* 不保證激光系統(tǒng)產品的性能和安全性。

? 應用：切割、修整、校正、 給半導體電路做

標記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色

濾光器的修復(校正錯誤)。還可用作光學觀

察剖面圖以便探針分析半導體故障。

? 可用于紅外光學系統(tǒng)*。

應用：晶體硅的內部觀察；紅外光譜特征

分析。

* 需要紅外光源和紅外攝像機。

? 支持BF (明視場)、DF (暗視場)、偏振光及微

分干涉對比(DIC) 的型號(產品) 可用。

? 帶有孔徑光闌的柯勒照明是表面照明光學

系統(tǒng)上的標準配件。

? 內傾轉塔和超長工作距離的物鏡確保了顯

微鏡下的高可操作性。

規(guī)格

型號FS70 FS70-TH FS70Z FS70Z-TH FS70L FS70L-TH FS70L4 FS70L4-TH

貨號378-184-1 378-184-3 378-185-1 378-185-3 378-186-1 378-186-3 378-187-1 378-187-3

型號FS70-S FS70-THS FS70Z-S FS70Z-THS FS70L-S FS70L-THS FS70L4-S FS70L4-THS

貨號378-184-2 378-184-4 378-185-2 378-185-4 378-186-2 378-186-4 378-187-2 378-187-4

聚焦調節(jié)使用同心粗調(3.8mm/rev)和微調(0.1mm/rev)對焦輪(右/左)實現50mm行程范圍